X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Vatican, Vatican Library Ms V...

B2FIND2026-04-30 收录

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XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 90s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of inks from Vatican Library...

针对梵蒂冈图书馆馆藏墨迹开展X射线荧光光谱法（XRF）与反射成像分析：其中X射线荧光光谱测试采用Elio设备，参数设置为40千伏、80微安，单次定点测量时长为90秒；反射成像分析采用DinoLite设备，放大倍率为50倍，测试覆盖可见光（vis）、近红外（NIR）及紫外（UV）光源。