X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Vatican, Vatican Library Ms R...
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资源简介：
XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 90s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of inks from Vatican Library...
采用X射线荧光光谱法（X-ray Fluorescence，设备：Elio，工作参数为40kV、80μA，单次点测时长90秒）与反射成像法（设备：DinoLite，放大倍数50倍，使用可见光、近红外及紫外光源）对梵蒂冈图书馆藏墨迹开展分析……
