芯片空间分辨率指标测试数据集

2021ZD0109802-001 芯片空间分辨率指标测试数据集 数据集内容：测量高清晰度超高速视觉芯片的空间分辨率，包括测试影像记录、测试报告。 数据来源：使用高清晰度超高速脉冲相机拍摄产生图像，查看图像的分辨率信息。 采集地点及时间：浙江省杭州市西溪路 560 号杭州国照检测技术有限公司，2024 年 10 月 23 日

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集针对高清晰度超高速视觉芯片的空间分辨率指标进行测试，通过脉冲相机拍摄图像并分析分辨率，包含测试影像记录与测试报告。数据采集于2024年10月23日在杭州国照检测技术有限公司，共4个文件（16.56MB），格式包括jpg、pdf和docx。