400G-800G TIA 芯片跨阻增益数据

400G-800G TIA 芯片跨阻增益直接决定了电流信号转换为电压信号的效率，增益越高，对微弱光信号的灵敏度越高，在400G/800G等高速率下，信号眼图会变得狭窄。TIA需要在高带宽下保持稳定的跨阻增益，以避免信号失真，确保数据眼图清晰，降低误码率。数据采集方式为：在温度23℃，相对湿度56%的洁净实验室环境下，连接好整个测试链路，通过校准片完成矢量网络分析仪的校准，去除链路上器件的频率响应及损耗，从而得到精确的芯片测量参数。Driver/TIA 芯片的 3dB 带宽: 测试芯片的 S21 参数，换算得到芯片增益随频率变化的曲线。在低频（≤1GHz）处的增益为起始增益，随着频率升高增益下降 3dB 对应的频率即为 3dB 带宽。TIA芯片的跨阻增益：可以由S21参数换算得到（输入信号50欧姆阻抗），采用 S21@1GHz。数据量为9.54 MB。 时间及地点：2025年11月，深圳市南山区桃源街道福光社区留仙大道3370号南山智园崇文园区3号楼2602研发实验室。