大面积高精度薄膜超材料样品谐振频率偏差测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-07-10 收录
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该数据集是针对课题二研究内容-柔性基底低应力形变可控曝光技术,开展大面积高精度薄膜超材料柔性基底低应力形变可控技术研究,为了验证柔性基底低应力形变可控曝光效果,课题组完成了大面积高精度薄膜超材料样品制备,开展了大面积高精度薄膜超材料样品谐振频率偏差测试,谐振频率偏差的考核方式是根据GJB7954-2012雷达透波材料透波率测试方法在微波暗室中展开测试。由具有资质的第三方检测机构出具检测报告,测试的透波率中心谐振频率与仿真结果中心频率比较,计算出谐振频率偏差。透波率测试在具有CNAS资质的第三方检测机构天府兴隆湖实验室暗室进行;透波率仿真数据,在工作站windows10环境下,采用CST电磁仿真软件完成大面积高精度薄膜超材料仿真和采集。
提供机构:
中国科学院光电技术研究所


