Time-bin entanglement at telecom wavelengths from a hybrid photonic integrated circuit

Name: Time-bin entanglement at telecom wavelengths from a hybrid photonic integrated circuit
Creator: ETH Zurich; Universität Würzburg; Heinrich-Hertz-Institut; University of Innsbruck; University of Vienna
Published: 2023-06-20T00:00:00+08:00

Zenodo2023-06-20 更新2026-04-07 收录

量子纠缠生成

光子器件

数据链接：

https://zenodo.org/doi/10.5281/zenodo.8059483 数据链接链接失效反馈

官方服务：

资源简介：

Datasets for results presented in publication.

提供机构：

ETH Zurich; Universität Würzburg; Heinrich-Hertz-Institut; University of Innsbruck; University of Vienna

创建时间：

2023-06-20

电吸收调制激光器(EML)阈值功率及消光比测试数据

光子通信

光子器件

EML芯片发射光功率测试，所采用设备为日本长江商社定制的芯片全自动测试仪Chiptest。由于EML是由分布式反馈激光器（DFB）与电吸收调制器（EA）相集成，测量需要高度精密、能够稳定输出的电流源和电压源，我们全自动测试仪Chiptest完全满足测试条件。给分布式反馈激光器加载一定区间内电流（比如0-100mA），电流增大步进相同，同时给电吸收调制器加载一定偏压，随着电流的增大，EML芯片会从不

国家基础学科公共科学数据中心3520

微环谐振器插入损耗原始数据

光子器件

光子通信

薄膜铌酸锂微环谐振器是光电子集成关键组件之一，面向光通信等应用需求，实现相应波长处信号的滤波功能。该器件的插入损耗的测试方法为：波长可调激光器通过偏振控制器入射至片上，经过片上微环谐振器传输后通过可扫谱功率计记录器件传输光谱。将器件传输光谱与背靠背测试得到的系统传输光谱相减，即可得到器件插入损耗，数据量为2个传输光谱。

国家基础学科公共科学数据中心190

片上可编程器件参数集合数据

光子器件

微纳加工测试

该数据集包含三个数据内容，分别为可编程级数、材料形貌测试、材料损耗测试三个方面的测试结果。这些数据均来源于实验的实际测试结果，所采用的记录软件、实验设备（如激光器、功率计、显微镜等）均为商业化产品。在可编程级数文件中，汇交了采用激光直写系统实现的原位多级输出台阶效果，包括原始绘图数据与台阶图片，以及激光加工界面的截图；在材料形貌测试文件中存放了金相显微镜测量材料横向尺寸的结果、采用椭圆偏振仪测试的

国家基础学科公共科学数据中心100

电吸收调制激光器(EML)调制器部分高频仿真数据

光子器件

高频仿真

该仿真数据主要来源与电磁仿真软件High Frequency Structure Simulator(HFSS)。所仿真结构为掺铁掩埋结构，仿真频段为0.1-40GHz，从而验证所提出的优化结构的高频性能。通过仿真，确定了所提出掺铁掩埋结构的高频传输性能，为课题高速电吸收调制激光器芯片研究提供了指导。观测数据为模型在0.1-40GHz的传输系数S21和反射系数S11。

国家基础学科公共科学数据中心1280

光纤固定衰减器

光子器件

光纤测试校准

光纤衰减器作为一种光无源器件,用于光通信系统当中的调试光功率性能、调试光纤仪表的定标校正,光纤信号衰减。产品使用的是掺有金属离子的衰减光纤制造而成,能把光功率调整到所需要的水平。

中国科技资源共享网2022-04-18 更新120