MiniLED芯片高速飞行刺晶转移定位复检测试数据

Mini LED芯片巨量转移定位复检测试数据集，主要面向新型显示制造中高精度芯片转移需求建设，应用设备通过集成转移方法、关键工艺、核心部件、系统控制，并通过试产打样验证最终转移精度。数据集记录了飞行刺晶设备在不同应用模式下（高精度模式/正常模式）通过设备自带AOI 功能验证转移实验结果，涵盖2022年10月至2026年6月期间8组核心实验测试结果，每组实验设备log包含转移后X 方向与目标中心位置offset,Y方向与目标中心位置offset。数据以Excel格式存储，总容量约17MB，支持验证了设备转移定位精度。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

本数据集面向新型显示制造中高精度MiniLED芯片转移需求，记录了高速飞行刺晶设备在两种应用模式下（高精度/正常模式）通过AOI验证的转移定位复测数据，包含2022年10月至2026年6月期间8组实验的X/Y方向偏移量，以Excel格式存储，用于验证设备转移定位精度。