访存可靠性测试数据

在大规模并行计算系统中，DRAM存储器使用数量巨大，研究表明，超过40%的硬件故障与存储系统有关，提高存储可靠性是超大规模计算系统可靠运行的关键。而传统纠错码无法满足后E级系统的极高可靠性要求，本项目研究了一种能支持千万核心规模系统的高可靠存储体系，本数据集主要用于测试该容错技术中的存储校验编码的chipkill能力及附加开销，测试重传及定期清洗功能，并证明了其对大规模系统的容错支撑能力。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集面向大规模并行计算系统中的高可靠存储体系，主要用于测试存储校验编码的chipkill能力、重传及定期清洗功能，以验证其容错技术对千万核心规模系统的支撑能力。数据来源于国家重点研发计划项目，旨在解决传统纠错码无法满足后E级系统可靠性要求的难题。