PAM4 LDD和TIA芯片电接口插损数据集

电接口插损是是5G光传输的核心电芯片中的一个重要性能参数，电插损数据基于误码仪、光功率计等设备搭建的电接口插损测试系统产生，主要记录光纤两端光功率，通过调节光纤上的损耗，在保证光功率之差为30 dB的前提下，记录了误码率。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于5G光传输核心电芯片中的电接口插损性能，通过搭建测试系统记录光纤两端光功率和误码率。它属于电子与通信技术领域，具体涉及集成电路和半导体技术。