Failure modes (%) observed for the post in each group.

NIAID Data Ecosystem2026-05-10 收录

结构失效分析

测试可靠性

数据链接：

https://figshare.com/articles/dataset/Failure_modes_observed_for_the_post_in_each_group_/30376902 数据链接链接失效反馈

官方服务：

资源简介：

Failure modes (%) observed for the post in each group.

创建时间：

2025-10-16

SiC MOSFET短路和雪崩特性

功率半导体

测试可靠性

MSOFET器件在雪崩、短路等极端条件下会面临由于瞬态局部电热集中所导致退化和失效等可靠性问题，本部分以两款商用1200V SiCMOSFET器件为对象，进行了单脉冲短路和单脉冲雪崩测试，从较低的短路、雪崩应力开始，逐步增加器件的短路时间和雪崩能量，直至器件损坏，主要记录了SiC MOSFET器件短路、雪崩波形，以及在逐渐增加短路应力过程中器件的栅氧层漏电流、栅氧层C-V曲线以及转移特性变化情况。

国家基础学科公共科学数据中心1130

mesolitica/Malaysian-Text-Benchmark

文本翻译

测试可靠性

这是一个轻量级的基准数据集，用于评估马来西亚语境下的合成生成。它包括各种语言特定的数据集，用于翻译任务，以及对不同语言和方言的可靠性测试。这些数据集由人类进行注释或偏好选择，以进行更好的评估。数据包括马来语、英语、印尼语、泰米尔语、普通话、爪哇语、Manglish、登嘉楼、吉打和登嘉楼方言的示例。文件还解释了每个数据集的目的和用法，并以JSON和Python格式提供了示例数据。

Hugging Face2025-05-12 更新210

The serial bounding algorithm with the accuracy of the reliability bound γ = 0

算法性能

测试可靠性

Reliabilities and running times of the serial bounding algorithm [19] with the accuracy of the reliability bound γ = 0

DataCite Commons2023-12-27 更新140

基于阻变存储器的模拟计算芯片可靠性测试数据集

模拟计算芯片

测试可靠性

该数据集为课题3考核指标3.6：模拟计算芯片可靠性的数据集，采集于2025年1月13日第三方测试的实时数据。本数据集主要关联课题3以下研究内容：基于阻变存储器的模拟计算芯片顶层架构，基于阻变存储器的模拟计算芯片集成设计。课题通过研究基于阻变存储器的模拟计算芯片顶层架构设计方案，完成了高可靠性的阻变存储器模拟计算芯片集成设计和测试验证，达到考核指标要求。本数据集命名为课题3-006-芯片可靠性，数据

国家基础学科公共科学数据中心260

EEI架构启动、组建时间数据集

汽车电子电气架构

测试可靠性

该数据集主要面向EEI架构启动、组建时间研究，通过搭建EEI架构启动、组建时间测试环境采集，主要记录了VIU2.1、VIU2.3型EEI区域控制器样品的车载网络启动时间、网络组建时间、域控制器启动时间可靠性测试数据，数据量40MB。

国家基础学科公共科学数据中心150