X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Paris, Bibliothèque Nationale...
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XRF (Elio: 40kV, 20 µA, spot measurements of 30-60s each), and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of pigments from miniatures of...
对细密画中的颜料开展X射线荧光光谱法（XRF，X-ray Fluorescence）与反射成像分析：其中X射线荧光光谱法采用型号为Elio的设备，工作参数为40kV电压、20µA电流，单次定点测量时长30~60秒；反射成像分析使用迪诺莱特（DinoLite）设备，放大倍数为50倍，搭载可见光、近红外及紫外光源……
