不同制备条件下荧光硅垢阻垢剂的性能数据集（2022年）
收藏国家地球系统科学数据中心2024-04-12 更新2024-04-21 收录
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资源简介：
采用响应面法设计的三因素，即不同反应温度、反应时间和底物PEIE-AA:E100的比例，共计15次实验测得的防垢率和单位荧光强度。
提供机构：
中国海洋大学
创建时间：
2024-04-12
