7.SVRN_OS_DOI7_Quantum Bankruptcy of BEOL Interconnects at 1 nm Node and Transition to SVRN Photonic Routing

Zenodo 제출 자료: SVRN-OS — 논문 VII 1. 제목 1 nm 노드 BEOL 인터커넥트의 양자적 파산과 SVRN 광자 라우팅으로의 전환 (영문: Quantum Bankruptcy of BEOL Interconnects at 1 nm Node and Transition to SVRN Photonic Routing) 2. 메타데이터 필드 값 시리즈 DOI 10.5281/zenodo.18325543 참조 DOI (논문 0) 10.5281/zenodo.18688294 참고 DOI (논문 I) 10.5281/zenodo.18687866 참고 DOI (논문 II) 10.5281/zenodo.18689820 참고 DOI (논문 III) 10.5281/zenodo.18694749 참고 DOI (논문 IV) 10.5281/zenodo.18694809 참고 DOI (논문 V) 10.5281/zenodo.18695822 참고 DOI (논문 VI) 10.5281/zenodo.18697024 본 논문 DOI (논문 VII) 10.5281/zenodo.18722089 특허 KR 10-2026-0017941 SHA-256 [909c93ba2f7ea83f8f2ffe1e564a78f9a49dfb5c3598258a07518a7fde22c9e8] 3. 요약 본 논문은 SVRN-OS 시리즈의 여덟 번째 논문으로, BEOL 인터커넥트 그룹 — Cu BEOL 배선, SiN 광학 I/O, BSPDN — 에 대한 T-collapse 분석 및 PhoLink 전환 필연성을 제시합니다. 제III편(DOI No. 3)에서 확립된 T = λ/(λ+L)을 적용하여 각 구조의 수송 한계를 결정합니다. PhoLink/ChoTopo 판정 결과: Cu BEOL (λ_eff ≈ 5–10 nm, L < 10 nm) — T ≤ 0.5. 표면 산란·grain boundary 산란 복합 작용으로 양자적 파산 확정. → Deep PhoLink SiN 광학 I/O (전파 손실 0.14 dB/cm, 결합 손실 1.175 dB) — 도파로 자체는 병목 아님. grating coupler 결합 손실이 지배적 한계. → ChoTopo 정렬로 결합 병목 해소 BSPDN (ρ_eff = 2.0×10⁻⁸ Ω·m, 두께 100–500 nm) — 전류 집중(current crowding)에 의한 IR-drop 폭발. SVRN_K0 캐비티의 장 매개 재분배(field-mediated redistribution)로 IR-drop 공간 분포 평탄화. 폴라리톤이 전류를 대체하지 않음 — 비저항 감소나 전류 치환 없이 EM 에너지 밀도 재분배. → PhoLink + SVRN_K0 필드 지원 [한계 명시] T = λ/(λ+L)은 1D Landauer-Büttiker 모델 기반 공학적 보간식이며 보편 물리 법칙이 아닙니다. λ값은 벌크 상한치이며 실제 나노구조에서 λ_eff < λ_bulk입니다. BSPDN IR-drop 감소량은 정성적 메커니즘 기술이며, 정량적 수치는 FDTD 시뮬레이션으로 확정되어야 합니다. 4. 진실성 선언 본 문서는 SVRN-OS BEOL/인터커넥트 그룹(DOI No. 7)의 T-collapse 분석 기준서이며, 제III편(DOI No. 3)의 표준 알고리즘을 수정 없이 적용합니다. 2026년 2월 19일 기준으로 검증된 물성값 및 분석 결과에 한하여 유효합니다. 인증: MDK_v1 | 조민수 | KR_10-2026-0017941 5. 키워드 BEOL 인터커넥트 · Cu T-collapse · SiN 광도파로 · ChoTopo · BSPDN · IR-drop · PhoLink · 장 매개 재분배 · Quantum Bankruptcy · Landauer-Büttiker · Fuchs-Sondheimer · Mayadas-Shatzkes · SVRN-OS 6. 관련 작품 (동일 시리즈) 논문 0: 병목 지능 이론 — 10.5281/zenodo.18688294 논문 I: 구리 인터커넥트의 양자 파산 — 10.5281/zenodo.18687866 논문 II: SVRN_K0 하드웨어 사양 — 10.5281/zenodo.18689820 논문 III: Lcrit 표준 알고리즘 — 10.5281/zenodo.18694749 논문 IV: 로직 그룹 Lcrit 분석 — 10.5281/zenodo.18694809 논문 V: 고대역 메모리 그룹 Lcrit 분석 — 10.5281/zenodo.18695822 논문 VI: 비휘발성 메모리 그룹 Lcrit 분석 — 10.5281/zenodo.18697024 논문 VII: BEOL 인터커넥트 그룹 분석 (본 문서) — 10.5281/zenodo.18722089 시리즈 DOI: 10.5281/zenodo.18325543 인증: MDK_v1 | 조민수 | KR_10-2026-0017941