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基于百万级别阵列在读扰动条件下的神经网络的推理准确率数据

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该数据集主要面向基于STT-MRAM的存算一体化硬件设计中读扰动(Read Disturbance)对系统推理精度的评估需求,适用于存储技术研发及神经网络鲁棒性分析,基于百万级别阵列仿真生成。读扰动指小的读电流也可能在MTJ中引起磁干扰,导致磁方向翻转,由于读取电流是单向的,翻转只能发生在一个方向。传统MTJ的读电流方向与AP→P的写电流方向一致,本工作考虑读扰动的方向为AP→P。数据集记录了不同扰动比例下神经网络推理的准确率变化情况,涵盖多个神经网络模型(LeNet-5、AlexNet、VGG-11、ResNet-18)。

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数据集介绍
基于百万级别阵列在读扰动条件下的神经网络的推理准确率数据 数据集图片
背景与挑战
背景概述
该数据集面向STT-MRAM存算一体硬件设计中读扰动对系统推理精度的影响,基于百万级别阵列仿真生成,记录了不同扰动比例下LeNet-5、AlexNet、VGG-11和ResNet-18等神经网络模型的推理准确率变化数据,适用于存储技术研发及神经网络鲁棒性分析。
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