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基于百万级别阵列在负载电阻条件下的乘累加误差率数据

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该数据集针对基于STT-MRAM的大规模存算阵列中的负载电阻(Load Resistance)引起的乘累加(MAC)误差进行建模和分析,适用于寄生电阻的硬件优化和算法设计研究。输入/输出负载电阻是交叉阵列位线输入端/源线输出端的负载电阻,会分担电压。乘累加数据来源AlexNet网络第一层,基于电路仿真执行乘累加模拟运算。

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数据集介绍
基于百万级别阵列在负载电阻条件下的乘累加误差率数据 数据集图片
背景与挑战
背景概述
该数据集针对基于STT-MRAM的大规模存算阵列中负载电阻引起的乘累加(MAC)误差进行建模与分析,数据来源于AlexNet网络第一层的电路仿真结果。它旨在为寄生电阻的硬件优化和算法设计提供研究支撑,适用于大规模阵列的误差率评估。
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