输出特性曲线数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64ef845abb16e0591d0250b9&type=1
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资源简介：
本数据集为对晶体管样品进行的输出特性曲线测试数据。数据集中包括以下内容：
1文章“Effective encapsulation of ZnO thin film transistors controlled by thermal energy”
2文章“Surface functionalization toward top-gated monolayer MoS2 field-effect transistors with ZrO2/Al2O3 as composite dielectrics” 等9篇文章中样品的输出特性曲线。
提供机构：
武汉大学
搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集收录了晶体管样品的输出特性曲线测试数据，源自9篇相关研究文章。它由武汉大学吴昊创建，属于国家重点研发计划项目，专注于半导体物理和薄膜晶体管的电学性能分析。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
