对称InAs量子点光谱及精细劈裂结构数据集

该实验测试数据在2021年1月至2021年9月完成，采集地点在中国科学院半导体研究所2号楼。使用分子束外延设备制备样品，并用自建光谱系统测试了InAs量子点的精细结构劈裂。实现了高对称InAs量子点亚10nm精度生长，精细结构劈裂FSS低至3.9μeV。（MBE型号：美国Veeco Gen930，单色仪：Acton公司 SP2500i型可调光栅单色仪，多元探测器：Princeton Instruments的Pixs100型硅基CCD，单元探测器：EG&G公司生产的SPCM-AQR-14型硅基APD，He-Ne激光器激发量子点）。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集记录了2021年在中国科学院半导体研究所进行的InAs量子点光谱与精细结构劈裂实验数据。通过分子束外延制备高对称样品，并利用自建光谱系统测试，实现了亚10纳米精度生长，其精细结构劈裂值低至3.9微电子伏特。