Study on Single Event Burnout Mechanism of SiC Schottky Diodes

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科学数据银行2023-03-23 更新2026-04-23 收录

单粒子烧毁(SEB)机理

SiC功率器件可靠性

数据链接：

https://www.scidb.cn/detail?dataSetId=f69d4e24fc4344c5ad6ed6619b30c961 数据链接链接失效反馈

官方服务：

资源简介：

SiC二极管SEB激光实验，SiC二极管SEB仿真

提供机构：

中国科学院国家空间科学中心; Ziyu Wang

创建时间：

2023-03-21

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