芯片功耗指标测试数据集

2021ZD0109802-002 芯片功耗指标测试数据集 数据集内容：测量正常光照条件下测量高清晰度超高速视觉芯片工作时所产生的功耗，包括测试影像记录、测试报告。 数据来源：使用数字电源测量芯片正常工作状态时的电流和电压值，电流和电压乘积即为芯片工作功耗。 采集地点及时间：浙江省杭州市西溪路 560 号杭州国照检测技术有限公司，2024 年 10 月 23 日

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集测量了高清晰度超高速视觉芯片在正常光照条件下的工作功耗，包含测试影像记录和报告。数据通过数字电源测量电流和电压值计算得出，采集于2024年10月23日杭州国照检测技术有限公司，属于国家重点研发计划项目的一部分。