芯片功耗指标测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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资源简介：
2021ZD0109802-002 芯片功耗指标测试数据集
数据集内容：测量正常光照条件下测量高清晰度超高速视觉芯片工作时所产生的功耗，包括测试影像记录、测试报告。
数据来源：使用数字电源测量芯片正常工作状态时的电流和电压值，电流和电压乘积即为芯片工作功耗。
采集地点及时间：浙江省杭州市西溪路 560 号杭州国照检测技术有限公司，2024 年 10 月 23 日
提供机构：
北京大学
