SDS and REML estimates of heritability for wheat grain yield in four environments (E1–E4)a.
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SDS and REML estimates of heritability for wheat grain yield in four environments (E1–E4)a.
四个环境（E1–E4）下小麦籽粒产量遗传力的SDS与受限极大似然（Restricted Maximum Likelihood，REML）估计值ᵃ
创建时间：
2016-10-31
