杭州士兰微电子股份有限公司

在研究时，需要对高性能控制器的不同硬件电路和外设芯片进行硬件单元测试，实现对高性能控制器的功能以及可靠性进行验证。测试内容主要包括：供电电路、CPU电路、输入输出信号电路以及板级电路、EMC分析等。数据采集通过对于厂家芯片手册数据以及测试信号结果进行对比分析和总结。该数据集内含9个excl格式的数据。该数据是由高性能控制器功能和可靠性硬件单元测试时，对于CPU的供电电路、外设的输入输出信号电路以及板级电路等进行多次测试分析时产生的信号分析数据。数据通过示波器采集，通过对于厂家芯片手册数据以及测试结果进行对比分析和总结，通过EXCL工具输出数据集。