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思特威(上海)电子科技股份有限公司

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企业

思特威(上海)电子科技股份有限公司成立于2017年,属计算机、通信和其他电子设备制造业,主营电子科技、集成电路科技领域内的技术开发、电子产品、计算机硬件及辅助设备等。面向CMOS图像传感器、性能测试与验证、像素优化设计等领域提供数据服务,开放芯片技术规格相关指标测试数据(CMOS图像传感器、性能测试与验证)、Pixel性能相关指标测试数据及研究过程数据(CMOS图像传感器、像素优化设计),支撑业务分析与决策支撑。

CMOS图像传感器性能测试与验证像素优化设计电子通信设备高新技术企业
成立于 2017 年上海市https://www.smartsenstech.com/li.su@smartsenstech.com

数据概览

2
数据集总量
7
总浏览量
0
关注人数
2026-06-26
最近更新
分类统计

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数据集列表

芯片技术规格相关指标测试数据
CMOS图像传感器
性能测试与验证
本数据集为国家重点研发计划课题 “高灵敏宽动态 CMOS 图像传感器研究”(课题编号:2022YFB3205102)的核心测试数据,聚焦芯片关键技术规格指标,包含分辨率、帧频及工作温度范围的中期测试、结项测试与期间自测数据及图像。数据采集于 2024 年 5 月至 2025 年 10 月,严格依据 EMVA1288 标准及 GB/T 43063-2023 国标执行,通过标准化测试流程保障数据可靠性。数据集以.xlsx 格式存储,总数据量 407MB,可完全共享,为 CMOS 图像传感器领域的技术研发、性能验证及行业标准优化提供高质量数据支撑,具有重要的工程应用与学术参考价值。
国家基础学科公共科学数据中心60
Pixel性能相关指标测试数据及研究过程数据
CMOS图像传感器
像素优化设计
本数据集为国家重点研发计划课题 “高灵敏宽动态 CMOS 图像传感器研究”(课题编号:2022YFB3205102)的 Pixel 性能核心数据,包含读出噪声、固定模式噪声、低照度成像信噪比、最大信噪比及灵敏度的中期测试、结项测试数据,以及像素设计全流程仿真数据。数据采集与仿真周期为 2024 年 5 月至 2025 年 2 月,严格依据 EMVA1288 标准及 GB/T 43063-2023 国标执行,采用暗场测试、光子传递曲线分析等标准化方法,确保数据准确性。数据集以.xlsx及 .raw 格式存储,总数据量 161MB,可完全共享,为 CMOS 图像传感器的像素优化、噪声抑制及低照度性能提升提供关键数据支撑,具有重要的学术研究与工程应用价值。
国家基础学科公共科学数据中心10
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