杭州重红科技有限公司

本实验数据集适用于 SoC 级验证与优化，涵盖 逻辑仿真、硬件加速仿真、FPGA 原型验证、形式验证、低功耗验证 等方法，可用于 高性能计算 SoC（如 AI 处理器、GPU、RISC-V 处理器、服务器芯片）、高速通信 SoC（PCIe、USB、DDR）、低功耗嵌入式 SoC（IoT 设备、无线芯片） 的功能、功耗、时序和片上通信验证。本数据可帮助发现 指令错误、数据溢出、信号丢失、寄存器未初始化、功耗异常 等关键问题，优化 时序收敛、低功耗管理、片上数据一致性，适用于 台积电（TSMC）、三星（Samsung）、英特尔（Intel）、中芯国际（SMIC） 等制程工艺节点。然而，本数据集不适用于 纯模拟 IC（如 RF 芯片、ADC/DAC）、极端低功耗芯片（1nW 级）、安全性抗攻击验证（如抗侧信道攻击）、后硅验证（Post-Silicon ATE 测试）等场景。本数据基于随机采样、规则约束、概率分布建模等方法，以确保数据符合 SoC 级验证的行业标准。 模块选择：从常见 SoC 组件（CPU、GPU、片上总线、DDR 控制器、PCIe、USB 3.1 等）中随机采样，每个模块具有不同的验证需求。 测试方法：依据 SoC 设计流程，按照验证阶段（逻辑仿真、硬件加速仿真、形式验证等）匹配合适的测试类型。 关键指标建模：代码覆盖率、功能覆盖率：使用 正态分布（N(92, 4)) 生成，确保数据集中度较高。 时序收敛、低功耗模式、硬件加速仿真：根据覆盖率阈值设定通过概率（如 代码覆盖率 < 90% 时，时序收敛概率下降）。 Bug 发生概率：基于 离散概率模型，当某项测试失败（Fail）时，按 Poisson 分布（λ=1.5） 生成 Bug 数量。 算法模型构建： 规则约束模型：代码覆盖率与时序收敛的相关性：低覆盖率（<90%）时，时序收敛通过概率下降。 低功耗模式与功能覆盖率的相关性：低功能覆盖率时，低功耗验证容易失败。 条件概率建模：若 代码覆盖率 < 90%，则时序收敛失败概率提升 40%。若 功能覆盖率 < 85%，低功耗模式失败概率提升 35%。若 Bug 发生，则随机选择 "时序问题"、"数据溢出"、"功耗激增" 等 Bug 描述。 数据优化：采用 分布平衡策略，避免某些模块或测试方法数据分布不均匀。 设定合理范围约束（如 代码覆盖率 85%-100%，功能覆盖率 80%-100%）。