聚碳酸酯激光高敏（二硫化钼）薄膜测试数据集

本数据集围绕二硫化钼（MoS₂）作为光敏增效组分的聚碳酸酯（PC）基激光高敏薄膜展开，涵盖了激光高敏剂为二硫化钼的薄膜的材料制备和性能指标，系统记录材料制备、结构表征、光学响应与激光刻蚀性能全流程测试数据，为激光直写、微纳加工、柔性光刻与薄膜功能化研究提供可复现、可对比的基础数据支撑。测量数据由具有检验检测资质证书的华测检测认证集团股份有限公司和苏州计量测试院有限公司完成。所用设备包含数字测厚仪（GH-3），高低温湿热试验箱（C4-180Eseries），烘箱（FED-720），耐撕裂度测定仪（GBD-S），集成电路卡动态弯曲检测仪（ZG-YQ-IC-006），分光测色计（001343），全自动高精度影像测量仪（19614025）等精密测试设备。数据为数据格式为PDF，数据量约为7MB。