X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Berlin, Staatsbibliothek zu B...
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资源简介：
XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 120s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification for spots on ink and pigment, vis, NIR and UV light) analysis...
本数据集包含X射线荧光光谱（XRF）与反射成像分析两类检测：其中XRF检测采用Elio设备，参数设置为40kV、80µA，单个点位的测试时长为120秒；反射成像分析采用DinoLite设备，针对油墨与颜料点位采用50倍放大倍率，分别在可见光（vis）、近红外（NIR）与紫外（UV）光下完成采集。
