芯片功性能测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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资源简介：
紫光青藤面向恶劣工况下具备高性能、高安全、高可靠性的车载核心控制芯片的功能与性能的测试需求，基于芯片评估板、ARC仿真器、示波器等设备进行芯片功性能测试，主要记录了芯片工作频率、总体算力、内核数量、外设接口、FLASH存储容量等数据，数据量1MB。
提供机构：
中国科学院基础学科公共科学数据中心
