硅波导-光纤单端耦合损耗数据集

本数据集聚焦于硅波导与光纤耦合结构的单端耦合损耗测量。数据采用可调谐激光、偏振控制、光功率计与高稳定光纤对准系统构建“光纤–波导–光纤”通路，在1550nm波长处采集不同波导长度的插入损耗，线性拟合结果获得双端耦合损耗并据此推导单端损耗。质量控制包括环境稳定、设备校准、重复测量与极值剔除。数据可用于指导端面耦合器参数优化与封装工艺窗口设定，并可作为硅光模块链路预算的基础输入。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集针对硅波导与光纤耦合结构，通过构建光纤-波导-光纤通路并在1550nm波长处采集不同波导长度的插入损耗，经线性拟合获得双端耦合损耗后推导出单端耦合损耗。数据经过环境稳定、设备校准、重复测量与极值剔除等质量控制。该数据集可用于指导端面耦合器参数优化与封装工艺窗口设定，并为硅光模块链路预算提供基础输入。