高功率多结VCSEL阵列芯片研制数据集

该数据集主要是对课题1“高功率多结VCSEL阵列芯片”性能指标测试数据进行全面的记录，包括测试指标内容和测试结果记录。具体数据内容主要包含所研制的“高功率多结VCSEL阵列芯片”六个指标：电光转化效率，斜率效率，发散角全角，输出光功率，阵列发光一致性，波长温漂的测试方法、测试步骤、判断标准以及测试结果。数据文件主要包括高功率多结VCSEL阵列芯片六个指标性能测试-课题1中期测试数据文档；高功率多结VCSEL阵列芯片六个指标性能测试-课题1结项测试数据文档。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集记录了高功率多结VCSEL阵列芯片六个关键性能指标（电光转化效率、斜率效率、发散角全角、输出光功率、阵列发光一致性、波长温漂）的测试方法、步骤、判断标准与结果。数据文件涵盖课题中期与结项两个阶段的测试数据文档，以JPG、xlsx、csv、png、docx等多种格式存储，共计121个文件、约20.99MB。