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偏振复用直检的硅光集成芯片测试数据

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=65043436bb16e0792635c53a&type=1
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资源简介:
本数据集主要包含了“偏振复用直检的硅光集成芯片测试数据”的相关实验测试实验数据。其中需要发送的数据在电脑上通过MATLAB程序离线处理后下载到任意波形发生器,然后进一步驱动发射机得到光信号;使用SV-DD接收模块进行接收,然后输出的射频信号利用实时示波器进行采样数字化后上传到电脑,在离线程序中进行接收机DSP处理后和发送数据进行比较,计算出误码率。
提供机构:
中山大学
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集包含偏振复用直检硅光集成芯片的实验测试数据,涉及通过MATLAB离线处理、任意波形发生器驱动发射机、SV-DD接收模块和实时示波器采样,最终计算误码率的流程。数据来源于国家重点研发计划项目,支持面向数据中心的短距离光互连技术研究。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
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