工业控制强实时高可靠MCU芯片ESD测试结果数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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介绍数据的时间范围、时间精度、空间范围、空间精度、计算方式等。 数据内容：本项数据是高可靠强实时微控制器芯片RIC630的ESD测试结果。 测试设备：Thermo Fisher Scientific Mk.4。 测试条件：本项数据在室温环境下采集，芯片供电电压3.3V。 对应指标：高可靠强实时微控制器芯片的ESD能力。
提供机构：
杭州中天微系统有限公司搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集提供了工业控制领域高可靠强实时MCU芯片RIC630的ESD测试结果，数据在室温环境和3.3V供电电压下使用Thermo Fisher Scientific Mk.4设备采集，旨在评估芯片的ESD能力。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
