Si衬底上GaN基高耐压HEMT器件的可靠性及其提升技术研究数据集

该数据集主要针对Si衬底上GaN基高耐压HEMT器件可靠性及其提升技术的研究，通过直流电源、示波器、信号发生器、高温反偏老化系统和半导体分立器件测试系统等设备而产生，主要记录了基于JEDEC标准的可靠性评估的研究数据、电场温场耦合应力下器件性能退化及失效机制的研究数据、基于高速动态开关综合应力下的器件退化及失效机理的研究数据以及Si衬底GaN高压HEMT器件可靠性加固技术的研究数据，数据量共2.18GB。