ChipIR Commercial Access Infineon OX08

B2FIND2026-04-25 收录

功率半导体辐射效应

硬件可靠性测试

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https://b2find.eudat.eu/dataset/68eff71b-bd90-5019-b11b-b356aa2fcfd6 数据链接链接失效反馈

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High-voltage power semiconductor devices, such as IGBTs, diodes and MOSFETs are susceptible to destructive failure due to terrestrial cosmic radiation (CR), notably the nucleon...

SEB Step Current Characteristic of GaN HEMTs

功率半导体辐射效应

GaNHEMT可靠性测试

Single-event burnout (SEB) experiments conducted on enhancement-mode GaN HEMTs, together with current measurements using a Keysight 34461A digital multimeter, revealed a new “step current” SEB charact

科学数据银行2025-11-20 更新80

Understanding Radiation-induced Effects in State-of-the-Art Embedded Processors

硬件可靠性测试

辐射效应分析

The susceptibility of electronic devices to atmospheric radiation is no longer just of concern to the aerospace industry. At sea level, a 100,000-device deployment can expect to experience a radiation

Mendeley Data2024-01-31 更新70

M32_32与M16_16电路板实验室测试数据集

电路板质量评估

硬件可靠性测试

本数据集涵盖M32_32和M16_16两款电路板在实验室环境下的多维度性能测试记录，包含待机功耗、工作功耗、3.3V电源纹波、连续收发丢包率、长期稳定性运行等5类关键测试项目。数据采集自M32_32共10个批次、M16_16共10个批次，总计103条测试记录。每条记录包含样品总数、有效样本数、测试时长、关键指标均值、不合格数等原始字段，并基于自定义算法衍生出合格率、数据置信度、异常样本率、数据完整

广东省数据知识产权存证登记平台2026-08-06 更新30

86905A数据采集卡样机第三方环境适应性、可靠性、维修性测试数据

硬件可靠性测试

环境适应性

本数据集为86905A数据采集卡样机第三方环境适应性、可靠性、维修性测试数据集，主要记录了数据采集卡86905A的第三方环境适应性、可靠性、维修性测试数据结果，包含的数据项有工作温度、存储温度、工作相对湿度、存储相对湿度、可靠性和维修性等第三方环境适应性、可靠性、维修性相关指标。

国家基础学科公共科学数据中心70

ChipIR Commercial Access Infineon OX13 - week13/2020

功率半导体辐射效应

硬件可靠性测试

High-voltage power semiconductor devices, such as IGBTs, diodes and MOSFETs are susceptible to destructive failure due to terrestrial cosmic radiation (CR), notably the nucleon part. As a consequence,

DataCite Commons2020-09-17 更新50

ChipIR Commercial Access Infineon OX08

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