半导体微腔品质因子及模体积数据集

品质因子实验测试数据在2019年-2020年完成，微纳射灯结构和GaAs角向光栅微环谐振腔的Q值在纳米楼120A量子光学实验室采集。使用冷台微区共聚焦系统测试，将白光光源耦合进光纤垂直入射，分别探测结构中心和无结构平板处的反射谱，用前者除以后者得到归一化的结构反射谱，从中拟合算出Q值。测试所用冷台型号为Montana Instrument S50, 光谱仪型号为Princeton Instrument SP-2750。模体积由测得的Q值代入理论公式得到

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集收录了半导体微腔的品质因子实验测试数据及计算得出的模体积，测试于2019-2020年进行。品质因子通过冷台微区共聚焦系统测量反射谱并拟合得到，模体积则由品质因子代入理论公式推导得出。