低温4KB SRAM芯片性能测试数据

本数据集基于4KB SRAM，进行芯片功能测试。数据集中测试数据是在上海微系统与信息技术研究所实验室测试得到的，数据采集过程中使用了泰瑞达公司生产的Magnum II测试机台等设备，发送并采集数据，用杜瓦罐提供4.2K的测试环境。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集记录了在4.2K低温环境下对4KB SRAM芯片进行功能测试的性能数据。测试在上海微系统与信息技术研究所实验室完成，采用泰瑞达Magnum II测试机台进行数据采集。