55nm CMOS MCU数据集

本数据集为2021年2月份流片的55nm全CMOS工艺设计的MCU动态功耗、静态功耗测试数据。内含1个图表合集文件夹，其中表格文件夹内包含两个表格，分别为动态功耗测试数据表格及休眠功耗测试数据表格。测试在装有MDK-ARM的集成开发环境Keil uVision5上进行。Keil uVision5用于调试调试嵌入式应用程序。ARM仿真器用于连接测试板与PC端，对基于ARM核的 MCU进行调试。测量动态功耗时，整片芯片各模块均开启，并维持在2.5V(IO)/1.2V(CORE)的供电下；测量休眠功耗时，芯片进入休眠模式，可关电区不供电，常开区在低供电下工作。测试时，通过上位机软件(装有MDK-ARM的集成开发环境Keil uVision5)控制测试工具(J-LINK)给待测芯片发送指令，同时获取响应反映在上位机串口助手中，即可完成功能验证测试。同时，通过串联在测试板和可调直流电源间的半台式数字万用表测量得到电流、电压数据，完成功耗测试。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集包含2021年2月流片的55nm全CMOS工艺MCU的动态功耗与静态功耗测试数据，具体包括动态功耗和休眠功耗两个表格。测试在Keil uVision5集成开发环境下，通过ARM仿真器连接测试板完成。数据由东南大学与南京博芯电子技术有限公司共同提供，项目背景为超陡摆幅极低功耗新原理器件及电路研究。