遇见数据集
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本数据集主要面向Micro-LED芯片设计与制造研究建设,探究芯片制程优化策略,基于光刻、干法刻蚀、电极蒸镀等产生,利用高精度测量显微镜,调整焦距至电脑显示清晰的外观图,用测试软件测量芯片尺寸和两颗芯片间间距,记录测量数据,数据量8.11MB。

搜集汇总
背景与挑战
背景概述
该数据集面向Micro-LED芯片设计与制造研究,聚焦于芯片制程优化策略,通过光刻、干法刻蚀等工艺产生,并利用高精度显微镜测量芯片尺寸及间距。数据以jpg、xlsx和pdf格式存储,共17个文件,数据量约8.12MB,由蔡建九、徐亮提供。
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