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厦门乾照光电股份有限公司

厦门乾照光电股份有限公司

企业

厦门乾照光电股份有限公司成立于2006年,属计算机、通信和其他电子设备制造业,主营光电子器件制造。面向Micro-LED、光致发光、Micro-LED芯片制造等领域提供数据服务,开放Micro-LED外延片PL光学性能(Micro-LED、光致发光)、Micro-LED 芯片光电性能(Micro-LED芯片制造、光电性能测试)、Micro-LED巨量转移排列精度(Micro-LED、巨量转移工艺),支撑品质管理与工艺优化。

光致发光光电性能测试巨量转移工艺电子通信设备高新技术企业
成立于 2006 年福建省https://www.changelight.com.cn/xlj@changelight.com.cn

数据概览

4
数据集总量
37
总浏览量
0
关注人数
2026-06-25
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分类统计

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数据集列表

Micro-LED外延片PL光学性能
Micro-LED
光致发光
本数据集主要面向高均匀性 Micro-LED 外延制备工艺研究,通过生长载盘设计,生长衬底设计,外延生长工艺设计等多维度进行协调控制,获得了均匀性良好的外延片;基于光致发光、荧光光谱法和反射原理,利用PL谱扫描成像仪,外延片以0.4mm步进移动扫描,选择正中间2cm*2cm面积包含数据计算均匀性、标准差,记录过程数据与计算所得数据,数据量13.1MB。
国家基础学科公共科学数据中心110
Micro-LED 芯片光电性能
Micro-LED芯片制造
光电性能测试
本数据集主要面向高效 Micro-LED 显示芯片光电性能技术研究,开发高反射膜技术、侧壁损伤修复技术及芯片 ALD 侧壁钝化技术,提升芯片出光效率及可靠性;基于电致发光原理,利用积分球,测量阵列半波宽、阵列发光效率,记录过程数据与计算所得数据,数据量476KB。
国家基础学科公共科学数据中心100
Micro-LED巨量转移排列精度
Micro-LED
巨量转移工艺
本数据集主要面向Micro-LED 巨量转移工艺研究,探究Micro-LED芯片转移工艺策略,基于高良率激光剥离技术与键合工艺关系,三色排列精度与胶材的关系,实现高良率面积 2cm*2cm 三色芯片排列技术;利用高精度测量显微镜,调整焦距至电脑显示清晰的外观图,用电脑软件进行测量两颗芯片边缘间距,记录过程数据与计算所得数据,数据量7.80MB。
国家基础学科公共科学数据中心100
Micro-LED芯片规格
Micro-LED制造工艺
半导体芯片尺寸测量
本数据集主要面向Micro-LED芯片设计与制造研究建设,探究芯片制程优化策略,基于光刻、干法刻蚀、电极蒸镀等产生,利用高精度测量显微镜,调整焦距至电脑显示清晰的外观图,用测试软件测量芯片尺寸和两颗芯片间间距,记录测量数据,数据量8.11MB。
国家基础学科公共科学数据中心60
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