Single- and Multibit Measurements of recent technology nodes
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Measurements of single-event upsets in recent semiconductor technology nodes.
先进半导体工艺节点中单粒子翻转（single-event upsets）的测量
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Measurements of single-event upsets in recent semiconductor technology nodes.
先进半导体工艺节点中单粒子翻转（single-event upsets）的测量